Kurzbeschreibung:


IC-CAP (Integrated Circuit Characterization and Analysis Program) ist die Industriestandardsoftware für die Charakterisierung und Modellierung von DC-, Analog- und HF-Halbleiterbauelementen.
IC-CAP extrahiert genaue Kompaktmodelle für den Einsatz in Hochgeschwindigkeits- / Digital-, Analog-, Leistungselektronik- und Leistungs-HF-Anwendungen. IC-CAP bietet Geräteingenieuren und Designern ein hochmodernes Modellierungswerkzeug, das zahlreiche Modellierungsanforderungen erfüllt, darunter automatisierte Instrumentensteuerung, Datenerfassung, Parameterextraktion, grafische Analyse, Simulation, Optimierung und statistische Analyse. Alle diese Funktionen werden in einer flexiblen, automatisierten und intuitiven Softwareumgebung kombiniert, um aktive, passive und benutzerdefinierte Geräte und Schaltkreise effizient und genau zu extrahieren. Die modernsten Halbleitergießereien und Hersteller integrierter Geräte (IDMs) von heute verlassen sich auf IC-CAP zur Modellierung von Silizium-CMOS, Bipolar, zusammengesetztem Galliumarsenid (GaAs), Galliumnitrid (GaN) und vielen anderen Gerätetechnologien.

Funktionen auf einen Blick

- Die offene Softwarearchitektur ermöglicht es Ihnen, durch die Integration Ihrer eigenen Modellierungskenntnisse und -methoden maximale Genauigkeit zu erzielen, und bietet ultimative Flexibilität bei der Erstellung und Automatisierung von Mess-, Extraktions- und Verifizierungsverfahren.
- Schlüsselfertige Extraktionslösungen für CMOS-Modelle nach Industriestandard wie BSIM3 / BSIM4, PSP, HiSIM und HiSIM_HV minimieren die Lernkurve und maximieren die Modellgenauigkeit.
- Einzigartige nichtlineare Hochfrequenzmodellierung mit Keysight DynaFET-, NeuroFET-, Root-Modellen, Hochfrequenz-BJT-, MESFET-, PHEMT- und hochmodernen Verilog-A-Modellen.

- Direkte Verbindungen zu den meisten kommerziellen Simulatoren (z. B. ADS, HSPICE, Spectre und ELDO) stellen die Konsistenz zwischen extrahierten Modellen und den von Schaltungsentwicklern verwendeten Simulatoren sicher.
- Die fortschrittlichste und vollständigste automatisierte Mess- und Charakterisierungsumgebung auf dem Wafer mit IC-CAP Wafer Professional (WaferPro).
- Leistungsstarke Datenverarbeitungsfunktionen.
- Der IC-CAP-Leistungselektronik-Modellgenerator ermöglicht die Extraktion von SiC-, GaN- und IGBT-Leistungsgeräten und arbeitet mit dem Keysight PD1000A-Messsystem für erweiterte Modellierung zusammen

Modelle mit IC-CAP extrahieren

Ein typisches Modellierungsverfahren umfasst die Auswahl eines Modells basierend auf der Gerätetechnologie und ihrer endgültigen Schaltungsanwendung (z. B. Gleichstrom, Hochfrequenz oder beides), die Durchführung der erforderlichen Messungen zur Charakterisierung eines Geräts oder einer Reihe von Geräten und schließlich die Anwendung eines Extraktionsalgorithmus um die Modellparameter zu berechnen. Dieser letzte Schritt wird erreicht, indem entweder die Parameter unter Verwendung integrierter oder benutzerdefinierter Modellgleichungen aus gemessenen Daten berechnet werden oder indem Optimierungs- oder Optimierungstechniken angewendet werden.

IC-CAP bietet die Plattform und Tools, die Ingenieure benötigen, um ihre eigenen Extraktionsmethoden zu entwickeln. Schlüsselfertige Modellierungs-Extraktionspakete für Benutzer, die am ersten Tag betriebsbereit sein müssen, werden sowohl von Keysight als auch von Drittanbietern bereitgestellt.